臺式X射線吸收精細結構譜儀采用X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質量，實現對元素的測定、定量和價態分析等。

 

　　構成：

　　臺式X射線吸收精細結構譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：

　　1、入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

　　2、準直元件：使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

　　3、色散元件：通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

　　4、聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。

　　5、探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

 

　　產品優勢：

　　1、無需同步輻射光源；

　　2、科研級別譜圖效果；

　　3、臺式設計，實驗室內使用；

　　4、可外接儀器設備，控制樣品條件；

　　5、可實現多個樣品或多種條件測試；

　　6、操作便捷、維護成本低。